专利名称：一种用于高精度测量的双频微带贴片天线专利类型：发明专利发明人：李瑞,吴多龙,吴艳杰申请号：CN201110198540.1申请日：20110715公开号：CN102377020A公开日：20120314
摘要：本发明是一种用于高精度测量的双频微带贴片天线。包括上层天线及下层天线，上层天线包括有顶层金属贴片层、中间介质层、底层金属贴片，顶层金属贴片层及底层金属贴片分别粘帖在中间介质层的顶面及底面，下层天线也包括有顶层金属贴片层、中间介质层、底层金属贴片，顶层金属贴片层及底层金属贴片分别粘帖在中间介质层的顶面及底面，上层天线及下层天线的中心点通过固定销钉进行上、下层天线的定位，并通过连接件固定连接，且上层天线及下层天线上穿设有用于接收L1频段的卫星信号的L1频段信号馈电探针，下层天线上穿设有用于接收L2频段的卫星信号的L2频段信号馈电探针。本发明能提高双频段天线相位中心稳定度，降低多路径效应，降低轴比，提高测量精度。
申请人：广东工业大学
地址：510006 广东省广州市番禺区广州大学城外环西路100号
国籍：CN
代理机构：广州粤高专利商标代理有限公司
代理人：林丽明
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