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用于微形貌测量的磁悬浮触针式位移传感器[发明专利]

来源:帮我找美食网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:用于微形貌测量的磁悬浮触针式位移传感器专利类型:发明专利

发明人:许斌,赵世平,陈伟,唐海容,刘乾乾申请号:CN201510071455.7申请日:20150211公开号:CN104713496A公开日:20150617

摘要:本发明为用于微形貌测量的磁悬浮触针式位移传感器。包括测量探头、探头支承座、读数传感器、信号处理控制装置。其中触针安装在悬浮式探杆下端,探杆为磁体,探杆设置在探头支承座内并与探头支承座间留有间隙,探头支承座为电磁铁。读数传感器与测量探头对应。设置有信号处理控制装置分别与读数传感器及探头支承座连接。本发明利用磁悬浮支承座和探杆间的磁力作用将探杆和触针悬浮,彻底改变了传统的机械固定接触式探杆安装方法,保证探杆和触针的高顺应性,使探杆只能在垂直于工件表面方向作直线运动,从本质抛掉了传统传感器的非线性误差,大大提高测量精度,扩大了传感器的测量范围,适应了精密加工技术的发展,更好地满足工业测量需要。

申请人:四川大学

地址:610000 四川省成都市一环路南一段24号

国籍:CN

代理机构:东莞市神州众达专利商标事务所(普通合伙)

代理人:刘汉民

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