专利名称：光波测距经纬仪专利类型：外观专利发明人：石井光男
申请号：CN201330460987.1申请日：20130927公开号：CN302779503S公开日：20140402
专利附图：
申请人：株式会社拓普康
地址：日本东京
国籍：JP
代理机构：中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：张涛
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