专利名称：一种测量转轴六自由度几何误差的光学测量装置专利类型：发明专利
发明人：李家琨,马栋,冯其波,张斌申请号：CN202011218376.1申请日：20201104公开号：CN112325777A公开日：20210205
摘要：本发明公开了一种测量转轴六自由度几何误差的光学测量装置，包括六自由度误差敏感单元和六自由度误差测量单元，所述六自由度误差敏感单元包括与转轴同轴设置的正多面棱体，正多面棱体的底面固定于转轴外端，多面棱体的顶面中心区域设有反射镜；所述六自由度误差测量单元包括角度误差测量单元和直线度误差测量单元；所述角度误差测量单元包括第一自准直仪和第二自准直仪，所述直线度误差测量单元包括第一激光位移传感器、第二激光位移传感器和第三激光位移传感器。本发明可实现对转轴六自由度误差的同时快速测量。本发明安装、调试简单快捷，不易受外界环境影响，适用性强。
申请人：北京交通大学
地址：100044 北京市海淀区西直门外上园村3号
国籍：CN
代理机构：北京市商泰律师事务所
代理人：邹芳德
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