专利名称：镀层测量方法和装置专利类型：发明专利发明人：曹鸿章,陶兴荣申请号：CN201810489475.X申请日：20180521公开号：CN108680127A公开日：20181019
摘要：本申请公开了一种镀层测量方法和装置。所述方法包括对未进行镀层的基板上一测量位置发射第一射线，接收穿过基板的第一射线，确定第一射线的接收强度；对完成镀层的基板上的测量位置发射第二射线，接收穿过基板的第二射线，确定第二射线的接收强度；根据第一射线的接收强度、第二射线的接收强度以及镀层材料对第二射线的吸收系数，确定测量位置上的镀层厚度。本申请解决了现有技术中在带钢镀层生产线上无法精确地确定测量镀层厚度，无法及时验证带钢的镀层厚度是否符合标准的技术问题。
申请人：北京核夕菁科技有限公司
地址：100043 北京市石景山区杨庄大街69号特钢办公楼八层813室
国籍：CN
代理机构：北京卓唐知识产权代理有限公司
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